Наш менеджер свяжется с вами в течение 15 минут.
Наш менеджер свяжется с вами в течение 15 минут.
Описание
Рамановский спектрометр MonoVista CRS+ является универсальным инструментом для исследования спектров комбинационного рассеяния и флуоресценции объектов и веществ различной природы. Благодаря конфокальному микроскопу возможна работа с образцами микроскопического масштаба, а наличие моторизованного XYZ-столика позволяет проводить картирование образца с функцией автофокуса. В то же время, макрокюветное отделение позволяет исследовать объекты макроскопического масштаба – различные образцы минералов, биологические объекты, кюветы с порошками и жидкостями, газы в многопроходных кюветах и т.п. Опциональная волоконная головка позволяет проводить картирование объектов с габаритами вплоть до 600×600 мм.
Сложный измерительный комплекс с простым управлением. Простое и понятное программное обеспечение позволяет выбрать нужную конфигурацию системы, провести автонастройку всех параметров и сразу приступить к измерениям.
Превосходные спектральные характеристики. Спектрограф с коррекцией изображения с фокусным расстоянием 500 или 750 мм, спектральный диапазон от 200 до 2200 нм, спектральное разрешение менее 0,2 см-1 (при длине волны 633 нм).
Низкочастотные измерения на однокаскадном спектрометре. Благодаря узкополосным интерференционным фильтрам и превосходному подавлению рэлеевского рассеяния возможна регистрация КР-спектра при отстройке от лазерной линии всего на ±10 см-1.
Рамановское картирование. Линейное, двумерное и трехмерное картирование, двумерное картирование с автофокусом; Скоростное картирование позволяет регистрировать до 10 000 КР-спектров всего за несколько минут.
Гибкость системы и множество дополнительных опций. Возможность конфигурировать систему «под свой эксперимент» за счет огромного выбора различных моделей микроскопов, лазеров, спектральных детекторов, температурных приставок и других опций.
Основные компоненты спектрометра
Конфокальный микроскоп
- Стандартные микроскопы Olympus: BX43, BX53, BX51WI и IX73
- Прямые, инвертированные и двойные микроскопы
- Большой выбор стандартных объективов на УФ, видимый и ИК диапазон; объективы с большим рабочим расстоянием
- Моторизованные XYZ столики с нанометровой точностью
- Термостолики для термостатирования образца от -196°C до 600°C
- Гелиевые криостаты для исследований при температурах от 4K
- Возможность работы в комбинированном режиме рамановского и AFM (атомно-силового) микроскопа, а также в режиме TERS (зондово-усиленная КР-спектроскопия)
Спектральные детекторы
- Детекторы с охлаждением ПЗС-матрицы элементами Пельтье или жидким азотом
- Различные форматы матриц и размеры пикселей
- Линейные InGaAs детекторы для ИК диапазона
- EMCCD детекторы для скоростного 2D и 3D рамановского картирования
- Back Illuminated CCD детекторы с минимальным эталонным эффектом
- Возможность использования ФЭУ
Спектрограф с коррекцией изображения
- Две входных моторизованных щели с шириной от 0 до 3 мм и возможность установки до двух детекторов; моторизованные откидные зеркала
- Сменные турели с дифракционными решетками с возможностью установки до трех сменных дифракционных решеток в каждую турель
- Опциональное серебряное или золотое покрытие на зеркалах
- Доступны на выбор более 100 дифракционных решеток на различный спектральный диапазон с различной дисперсией и эффективностью
- Сканирующая система с приводом от шагового двигателя с микропроцессорным управлением, обеспечивающая высокую точность и повторяемость
Программное обеспечение
- Автонастройка и оптимизация заведения лазера и КР-сигнала
- Калибровка по интенсивности и длине волны
- Управление температурными приставками
- Управление моторизованными столиками для картирования с возможностью автофокусировки
- Пост-обработка КР-спектров
- Модуль с библиотеками спектров
- Управление АСМ-приставками