Запрос отправлен!
Close button
Ваш запрос успешно отправлен.
Наш менеджер свяжется с вами в течение 15 минут.

Контакты

телефон/факс

+7 (495) 374-69-52

email

sales@cryotrade.ru

Для заказа криогенных жидкостей

+7 (495) 374-69-53

Напишите нам

Close image
Тема
Сообщение
Дополнительные файлы
Телефон и почта

Телефон/факс

+7 (495) 374-69-52

EMAIL

sales@cryotrade.ru

Для заказа криогенных жидкостей

+7 (495) 374-69-53

Запрос отправлен!
Close button
Ваш запрос успешно отправлен.
Наш менеджер свяжется с вами в течение 15 минут.

Запросить коммерческое предложение

Выбранная позиция
waiting...
Контактные данные
Сообщение

Атомно-силовой микроскоп attoAFM III

Печать страницы
Компания «Криотрейд инжиниринг» представляет атомно-силовые микроскопы attoAFM I и attoAFM III производства немецкой компании attocube. Исследование образцов методом атомно-силовой микроскопии также реализовано в комбинированных моделях attoAFM/STM и attoAFM/CFM.
Атомно-силовой микроскоп предназначен для исследования рельефа поверхности образца. Сам принцип атомно-силовой микроскопии позволяет получить точность, недостижимую традиционными оптическими методами исследован

Производитель

Attocube systems AG

  • Возникли вопросы?

Описание

В attoAFM III в качестве зонда используется кварцевый камертонный резонатор. Микроскоп с таким типом зонда работает в бесконтактном режиме, а для регистрации расстояния от зонда до поверхности образца используется неоптический метод. Игла приклеивается на одну из ног осциллирующего в горизонтальном направлении камертона. Изменение амплитуды колебаний за счет взаимодействия иглы с поверхностью образца регистрируется электрической схемой. Неоптический метод регистрации позволяет использовать этот тип зондов для исследования образцов, чувствительных к воздействию света.

Ключевые особенности и преимущества

  • Сверхкомпактная беспрецедентно стабильная АСМ головка
  • Высокочувствительный кварцевый камертонный резонатор
  • Сверхвысокое разрешение в бесконтактном режиме
  • Высокая добротность для измерений с повышенной чувствительностью
  • Улучшенное соотношение сигнал/шум благодаря низкотемпературному предусилителю
  • Отсутствие необходимости в юстировке оптических элементов

Возможные опции

  • Интерферометрические датчики смещения для сканирования образца с обратной связью, обеспечивающие точность позиционирования 1 нм
  • Увеличенный диапазон сканирования 125 мкм при температуре 4К
  • Система позиционирования образца с резистивными энкодерами, позволяющая задавать абсолютные координаты области сканирования в диапазоне 5 × 5 мм с повторяемостью 1 мкм
  • Система визуализации образца, состоящая из оптической схемы, ПЗС-камеры и светодиодной подсветки образца, позволяющая осуществлять визуальный контроль образца и зонда во время сканирования

Просто ссылка

Основные характеристики

attoAFM I attoAFM III
Общие характеристики
Тип микроскопа Атомно-силовой микроскоп с оптической интерферометрической схемой регистрации отклонения кантилевера Атомно-силовой микроскоп с кварцевым камертонным резонатором
Совместимость Возможность установки коммерчески доступных зондов (опционально) Возможность установки зондов Akiyama, NaugaNeedles
Режимы работы
Режимы сканирования Контактный, бесконтактный, постоянной высоты, постоянной силы Бесконтактный
Стандартные методы Атомно-силовая микроскопия, магнитно-силовая микроскопия Атомно-силовая микроскопия, электростатическая силовая микроскопия, сканирующая затворная микроскопия
Опциональные методы Магнитно-силовая микроскопия, кельвин-зондовая силовая микроскопия, силовая микроскопия пьезоотклика, атомно-силовая микроскопия с проводящим зондом Возможность установки комбинированной головки атомно-силового и сканирующего туннельного микроскопа
Компенсация наклона Компенсация наклона плоскости сканирования по двум осям
Разрешение
Измеренное среднеквадратичное отклонение по Z-координате (режим постоянной силы, температура 4К) <0,05 нм для криостатов attoLIQUID, <0,10 нм для криостатов attoDRY. Гарантировано: <0,15 нм
Плотность шума по Z-координате <3 пм/Гц1/2 <16 пм/Гц1/2
Разрешение по Z-координате 57 пм при температуре 4К и диапазоне сканирования 15 мкм 7,6 пм при температуре 4К и диапазоне сканирования 2 мкм
Позиционирование образца
Общий диапазон перемещения 5 × 5 × 5 мм в режиме без обратной связи
Шаг от 0,05 до 3 мкм при температуре 300К, от 10 до 500 нм при температуре 4К
Диапазон сканирования 50 × 50 × 24 мкм при температуре 300К, 30 × 30 × 15 мкм при температуре 4К 50 × 50 × 4,2 мкм при температуре 300К, 30 × 30 × 2 мкм при температуре 4К
Сканирование в режиме с обратной связью Опционально
Условия эксплуатации
Температурный диапазон От 1,5 до 300К. Возможно исполнение для работы при температуре менее 1К
Диапазон значений магнитной индукции От 0 до 15 Т
Среда Теплообменный газ (гелий). Возможно вакуумное исполнение (до 10-6 мбар)
Криогенная система
Корпус микроскопа Титановый, диаметр 48 мм
Шахта магнита/криостата Диаметр 2” (50,8 мм)
Совместимые модели криостатов attoDRY1000/1100/2100, attoLIQUID1000/2000/3000/5000
Для уточнения цены и сроков поставки оборудования связывайтесь с техническими специалистами «Криотрейд инжиниринг».

Возникли вопросы?

По вопросам, связанным с приобретением криостатов, проработкой проектов, пробным тестированиям образцов, получением дополнительной информации обращайтесь к менеджерам компании ООО "Криотрейд".

Дополнительные файлы
По вопросам, связанным с приобретением криостатов, проработкой проектов, пробным тестированиям образцов, получением дополнительной информации обращайтесь к менеджерам компании ООО "Криотрейд".

© 2008 — 2024 «ООО Криотрейд инжиниринг»

Любое коммерческое использование представленных на сайте материалов без ведома и прямого письменного разрешения Компании Криотрейд инжиниринг не допускается и будет преследоваться согласно российскому и международному законодательству.