Криогенная микроскопия (AFM и пр)

Атомно-силовая микроскопия

Атомно-силовой микроскоп предназначен для исследования рельефа поверхности образца. Сам принцип атомно-силовой микроскопии позволяет получить точность, недостижимую традиционными оптическими методами исследования. Один из самых простых режимов работы АСМ микроскопа – контактный. Тонкая игла, закрепленная на упругой консоли (кантилевере), касается поверхности образца. Для построения изображения образца проводят последовательные линейные сканирования поверхности иглой. Вертикальные отклонения кантилевера, вызванные взаимодействием поверхности образца и иглы, фиксируются с высокой точностью оптическим методом. Другой режим работы атомно-силового микроскопа – бесконтактный. В этом режиме сканирования отклонения кантилевера вызываются дальнодействующими силами, такими как силы Ван-Дер-Ваальса, силы электростатического и магнитного взаимодействия. Возможность регистрации магнитного взаимодействия кантилевера с поверхностью образца впоследствии привело к возникновению отдельного метода сканирующей зондовой микроскопии – магнитно-силовой микроскопии.